Silikonisierung

Zerstörungsfreies Messen von Silikonschichten

07.02.2008 | Redakteur: Ilka Ottleben

Silikonschichten von Spritzen können künftig mit einem neuen System von Rap.ID Particle Systems vermessen werden.

Rap.ID Particle Systems hat kürzlich ein System vorgestellt, das die Dicke und örtliche Verteilung der Silikonschicht einer Spritze überprüft, ohne sie dabei zu zerstören. Lokale Anhäufungen des Silikonöls oder zu dünn beschichtete Bereiche sollen sich so innerhalb von Sekunden bestimmen lassen.

Dies soll einen optimalen Silikonisierungsprozess ermöglichen und letztlich gewährleisten, dass die Spritze dicht und der Stopfen leicht beweglich ist. Der Silicone Layer Explorer System misst Schichtdicken ab 50 Nanometern. Dabei können die Messungen auch an befüllten Objekten erfolgen.

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