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ICP-MS

Effiziente Extraktion der Analytionen

| Redakteur: Doris Popp

Die Leistungsfähigkeit des Plasma Quant MS von Analytik Jena folgt aus der Synergie von innovativen Technologien, ausgehend von dem Plasma-System über das Zwei-Konen-Interface zum Reflex-Ion mit effizienter, dreidimensionaler Fokussierung der Ionen in den HD-Quadrupol.

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Plasma Quant MS
Plasma Quant MS
(Bild: Analytik Jena)

Durch eine effektive Abtrennung von Photonen und neutralen Teilchen werden der unspezifische Untergrund auf <1 count pro Sekunde reduziert und niedrige Nachweisgrenzen erreicht. Die Ionenoptik vereint den Reflex-Ion-Ionenspiegel und ein Set von Extraktionslinsen zur Bündelung des Ionenstrahls auf den Ionenspiegel. Dieser reflektiert die Analytionen mittels eines parabolisch geformten, elektrostatischen Feldes um 90° auf die Eintrittslinse zum Vorquadrupol. Photonen und neutrale Teilchen passieren unbeeinflusst von diesem Feld die Hohlkonstruktion des Reflex-Ion und werden durch das Vakuumsystem aus dem Spektrometer entfernt. Die Reflexion des Ionenstrahls ermöglicht eine dreidimensionale Kontrolle des Fokuspunktes gegenüber der Eintrittslinse. Damit kann die Empfindlichkeitscharakteristik des Massenspektrometers optimiert werden. Die Aspect MS-Software erlaubt die nutzerspezifische Einstellung aller Parameter.

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