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Rasterkraftmikroskop Für Anwender in der Industrie

| Redakteur: Doris Popp

Anton Paar präsentiert ein Rasterkraftmikroskop, das speziell für Anwender in der Industrie konzipiert ist.

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Premium-Rasterkraftmikroskop Tosca 400
Premium-Rasterkraftmikroskop Tosca 400
(Bild: Anton Paar)

Tosca 400 wendet neue Automatisierungsformen an und erhöht damit laut Anton Paar die Effizienz von AFM-Messungen. Aufgrund der komplizierten Bedienung von Rasterkraftmikroskopen wurden diese bisher hauptsächlich in Forschungszentren eingesetzt. Der Betrieb des Tosca 400 ist weitgehend automatisiert, um die AFM-Messungen einfacher zu gestalten. Eime automatische Laserausrichtung, Seitenansicht-Kameras für eine möglichst einfache Probenannäherung sowie die Workflow-orientierte Steuerungs- und Analysesoftware sollen die AFM-Messungen vereinfachen. Mit Tosca 400 startet der Anwender die Laserausrichtung mit nur zwei Klicks in der Steuerungssoftware: Wenn der Cantilever auf der Aktuatoreinheit und diese auf dem AFM-Kopf angebracht ist, führt das Instrument die Ausrichtung automatisch aus. Mit einer Seitenansicht-Kamera kann der Anwender die exakte Position des Cantilevers auf dem PC-Bildschirm verfolgen und den Cantilever dicht an die Probenoberfläche annähern. Anschließend wird der Cantilever automatisch auf die Oberfläche abgesenkt und ist innerhalb von Sekunden zum Scannen bereit.

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