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Röntgenpulverdiffraktometer Für die tägliche XRD-Analyse

Redakteur: Doris Popp

Mit dem neuen Benchtop-Röntgenpulverdiffraktometer Aeris von Panalytical lassen sich unterschiedliche Materialien schnell und präzise auf ihre Phasenzusammensetzung analysieren.

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Benchtop-Röntgenpulverdiffraktometer Aeris
Benchtop-Röntgenpulverdiffraktometer Aeris
(Bild: PANalytical)

Mit einem integrierten Touchscreen und einer neuen Bedienersoftware ist Aeris in jedem Labor sofort einsetzbar. Die Betriebskosten sind gering, da Aeris lediglich einen 230-V-Stromanschluss benötigt. Kühlwasser oder Druckluft sind nicht erforderlich. Aeris nutzt viele von Panalytical entwickelte Komponenten, die bereits für die Empyrean-Hochleistungs-XRD-Plattform entwickelt wurden. Daher sind die Datenqualität und die Analysegeschwindigkeit auf gleichem hohen Niveau wie bei herkömmlichen Röntgendiffraktometern mit Röhrenleistungen >1 kW. Ein besonderes Merkmal von Aeris ist die werksseitige Ausrüstung mit allen Schnittstellen für eine Einbindung in eine Laborautomatisierung. Daher eignet sich Aeris insbesondere für die industrielle Prozesskontrolle. Die Aeris-Research-Edition kann mittels des 2D-Detektors gut für die Lehre und Forschung eingesetzt werden. Zudem können dank der einfachen Bedienung Studenten und Doktoranden leicht in die Röntgenpulverdiffraktion eingearbeitet werden.

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