Abb.1: Mithilfe des FT-IR-Mikroskops Lumos lassen sich ortsaufgelöste Messungen von Verunreinigungen oder Defekten durchführen.
Abb.1: Mithilfe des FT-IR-Mikroskops Lumos lassen sich ortsaufgelöste Messungen von Verunreinigungen oder Defekten durchführen. ( Bild: Bruker )