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Nanomaterialien Mehr Aufklärung durch gekoppelte Raman-AFM Techniken

| Redakteur: Dr. Ilka Ottleben

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(Bild: Horiba)

Mikro-Ramanspektroskopie und Rastersondenmikroskopie gehören heute in der Materialanalyse zur analytischen Standardausrüstung. Sie ermöglichen die Materialcharakterisierung im Mikro- und Submikrometerbereich. Die Vereinigung beider Techniken in Form kombinierter Instrumente nimmt an Stellenwert zu. Sie ermöglichen einen weitaus umfassenderen Einblick in Materialeigenschaften, als es nur eine Technik alleine vermag. Insbesondere bei der Charakterisierung von Nanomaterialien zeigen sich die Vorteile. So ermöglicht der co-lokalisierte Raman-AFM-Ansatz das schnelle Auffinden und die chemische Identifikation von Nanostrukturen. Sind diese lokalisiert, können sie anschließend über Nahfeldmethoden weiter charakterisiert werden. Vor allem bei starken Ramanstreuern wie Kohlenstoffnanoröhrchen, Nanodrähten, Graphenen oder lumineszenzartigen Quantenpunkten bewährt sich der dieser Ansatz. Daneben ermöglicht die spitzenverstärkte Ramanspektroskopie (TERS – Tip Enhanced Raman Spectroscopy) neben der topographischen Untersuchung die simultane molekulare Identifizierung mit räumlicher Auflösung weit unterhalb dem optischen Diffraktionslimit. Horiba hat dieses Thema in einer aktuellen technischen Notiz aufgegriffen. Achema: Halle 4.1, Stand H77

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