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Charakterisierung von NIR-Emittern Messung winkelabhängiger Eigenschaften von NIR-Lichtquellen

Redakteur: Doris Popp

Polytec stellt zwei neue NIR-Emitter-Charakterisierungssysteme des Herstellers Eldim vor. Eldim entwickelte die Systeme für die Messung winkelabhängiger Eigenschaften von NIR-Lichtquellen.

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NIR-Emitter-Charakterisierungssysteme des Herstellers Eldim
NIR-Emitter-Charakterisierungssysteme des Herstellers Eldim
(Bild: Polytec)

Sie eignen sich sowohl für den R&D-Bereich als auch für die Qualitätskontrolle in der Produktion. Beide Geräte messen berührungslos. Sie erzeugen mit einer einzigen Messung ein vollständiges Abbild innerhalb des Betrachtungswinkels von ±70 ° bzw. ±40 ° bei einer Winkelauflösung von 0,05 °. Die Messdauer zur Charakterisierung des Fernfeldes liegt unter einer halben Sekunde. Das VC-Probe-NIR-STG dient der Analyse der Eigenschaften von IRED-Punktprojektoren und Flächenstrahlern, wie sie in der 3D-Bildgebung mittels Stereoskopie oder strukturiertem Licht eingesetzt werden. Das OF-Scope-NIR-DSD wurde für LIDAR- und VCSEL-Komponenten entwickelt und misst bei Wellenlängen von 850, 905 und 940 nm und einem Arbeitsabstand von 30 mm.

Die genaue Charakterisierung von NIR-Quellen wie Oberflächen-Emittern wird im LIDAR-Bereich zur Sensor-Analyse bei autonomen Fahrzeugen oder in der 3D-Fernerkundung eingesetzt. Aber auch die NIR-basierte Gesichtserkennung, zum Beispiel in Smartphones oder sicherheitsrelevanten Banking-Anwendungen, kann durch diese Technologie perfektioniert werden. Apple setzt die Eldim-Systeme bei der Produktion des iPhone X zur Charakterisierung seiner Face-ID ein.

Polytec bietet Anwendungsberatung, Testmessungen, Vertrieb und Service für alle Eldim-Systeme.

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