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Röntgenmikroskope Mikro-XRF-Analytik mit höherer Sensitivität und Auflösung

| Redakteur: Dr. Ilka Ottleben

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Das XGT-7200 macht die Elementaranalytik mit bis zu 10 µm Ortsauflösung zur Routineaufgabe.
Das XGT-7200 macht die Elementaranalytik mit bis zu 10 µm Ortsauflösung zur Routineaufgabe.
(Bild: Horiba Jobin Yvon)

Für Mikro-XRF-Analytik mit höherer Sensitivität und Auflösung bietet Horiba Scientific das neue XGT-7200/5200. Die bewährten Röntgenmikroskope der XGT-Reihe sind jetzt wahlweise mit Silicon-Drift-Detektoren (SDD) ausgestattet. Die Vorteile mit diesem Detektor sind vielfältig, so z.B. höhere Energieauflösung und bis zu zehnfach höhere Zählraten. Für die Kühlung ist kein flüssiger Stickstoff mehr nötig. Insgesamt ergibt sich daraus laut Herstellerangaben eine wesentlich verbesserte Sensitivität insbesondere auch bei leichten Elementen. Schnellere Punktmessungen oder hoch aufgelöste Mappings der Elemente Natrium bis Uran mit einer Auflösung bis zu 10 µm werden so möglich. Auf diese Weise werden Quantifizierung und Schichtdickenmessung genauer. Vakuum ist wahlweise zuschaltbar, sodass auch wasserhaltige, beispielsweise biologische Proben untersucht werden können. Ein zusätzlicher Transmissionsdetektor erzeugt Bilder mit „Durchblick“, indem er interne strukturelle Analysen erlaubt. Die einfache Bedienung wird durch den wartungsfreien, peltiergekühlten Detektor nochmals verbessert, heißt es von Horiba.

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