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Partikelanalysesystem Mit integrierter CCD-Kamera

| Redakteur: Doris Popp

Das neue Partikelanalysesystem Bettersizer S3 Plus von Quantachrome kombiniert die Laserbeugung mit der dynamischen Bildanalyse.

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Bettersizer S3 Plus
Bettersizer S3 Plus
(Bild: Quantachrome)

Dadurch können Partikel mit Größen von 0,01 µm bis 3500 µm hochauflösend mit nur einem Gerät analysiert werden, heißt es in einer Pressemitteilung. Während große Teilchen bis 3,5 mm mit der Hochgeschwindigkeits-CCD-Kamera zuverlässig gemessen werden, lassen sich Nanopartikel ab 10 nm höchst präzise dank der Doppellinsentechnik detektieren. Die zusätzliche Linse zwischen Laser und Probenkammer wandelt zum einen den divergenten Laserstrahl in einen Parallelstrahl, zum anderen ermöglicht sie die Detektion des rückgestreuten Lichtes. Die Verwendung nur eines Lasers liefert ein kontinuierliches Streuspektrum mit konsistenter Wellenlänge, der schräge Lichteinfall gestattet die Detektion im Winkelbereich bis 165°.

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