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Ausbildungsmikroskope Neue Ausbildungsmikroskope für Geowissenschaften und Materialanalyse

| Redakteur: Dr. Ilka Ottleben

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Mit dem Polarisationsmikroskop Leica DM750 P und dem Materialprüfungsmikroskop Leica DM750 M präsentiert Leica Microsystems neue Ausbildungsmikroskope. (Bild: Leica Microsystems)
Mit dem Polarisationsmikroskop Leica DM750 P und dem Materialprüfungsmikroskop Leica DM750 M präsentiert Leica Microsystems neue Ausbildungsmikroskope. (Bild: Leica Microsystems)

Mit dem Materialprüfungsmikroskop Leica DM750 M und dem Polarisationsmikroskop Leica DM750 P präsentiert Leica Microsystems neue Ausbildungsmikroskope, die mit durchdachten Details und langlebiger Technik den Unterricht in Schulen und Universitäten erleichtern sollen. Die Mikroskope basieren auf derselben Optikplattform, die auch bei den High-End-Mikroskopen des Unternehmens eingesetzt wird. Das Polarisationsmikroskop DM750 P erfüllt die speziellen Anforderungen in der geowissenschaftlichen und materialkundlichen Ausbildung. Das DM750 M ist ein Einstiegsmikroskop für die Materialprüfung mit Hellfeld, Schräglicht und polarisiertem Licht. Es wurde speziell auf die Anforderungen der Standardqualitätskontrolle und Materialanalyse im Qualitätslabor sowie des akademischen Unterrichts in technischen Fächern zugeschnitten. In beiden Mikroskopen wurden interessante Details umgesetzt. So verhindert das Silberionen-Additiv AgTreat die Ausbreitung von Keimen an den Oberflächen des Mikroskops, trägt zu einer gesünderen Laborumgebung bei und ist frei von Allergenen. Der Ezstore-Handgriff an der Rückseite, die integrierte Kabelaufwicklung und die Griffmulde an der Vorderseite der neuen DM-Serie erleichtern Transport und Aufbewahrung.

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