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Mikroskopie Neue Oberflächendarstellungs- und Metrologie-Software für die Mikroskopie

Redakteur: Dr. Ilka Ottleben |

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Leica Maps Benutzeroberfläche (Ausschnitt) (Bild: Leica Microsystems)
Leica Maps Benutzeroberfläche (Ausschnitt) (Bild: Leica Microsystems)

Die neue Oberflächendarstellungs- und Metrologie-Software Leica Map mit der Leica Application Suite (LAS) wird ab sofort in Leicas Industriemikroskopen verwendet. Mit ihr lassen sich Merkmale gemessener Oberflächen sichtbar machen und quantifizieren, Oberflächenbeschaffenheiten und -geometrien charakterisieren sowie visuelle, nachverfolgbare Berichte darüber erstellen. Die Software ist in drei Ausführungen verfügbar. Die Basis-Software Leica Map Start wird zusammen mit LAS-Montage verwendet. In dieser Software kann die Oberflächen-Topografie aus allen Winkeln in Echtzeit dargestellt werden. Die Möglichkeit, Farb- und Intensitäts-Bilder übereinander zu legen, erleichtert das Auffinden von Oberflächenmerkmalen und -fehlern. Es lassen sich Abstände, Winkel und Stufenhöhen messen. Höhenparameter und Funktionsparameter werden gemäß der neuesten Norm ISO 25178 über flächenmäßige Oberflächenbeschaffenheit berechnet. Die Software Leica Map DCM 3D ist speziell auf das Mikroskop Leica DCM 3D mit Dual-Core-Technologie ausgerichtet. Es erlaubt die nicht-invasive Beobachtung von Mikro- und Nano-Strukturen in hoher Geschwindigkeit und Auflösung. Die Mikroskopiesoftware bietet fortgeschrittene Filtertechniken nach ISO 16610.

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