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Röntgenfluoreszenzspektrometer Neues Benchtop-Röntgenfluoreszenzspektrometer – Nachweissatrk und präzise

| Redakteur: Dr. Ilka Ottleben

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Epsilon 3 – die neue Baureihe von energiedispersiven Benchtop-Röntgenfluoreszenzspektrometern (EDXRF) für die Elementanalyse. (Bild: PANalytical)
Epsilon 3 – die neue Baureihe von energiedispersiven Benchtop-Röntgenfluoreszenzspektrometern (EDXRF) für die Elementanalyse. (Bild: PANalytical)

Mit dem Epsilon 3 führt Panalytical eine neue Baureihe von energiedispersiven Benchtop-Röntgenfluoreszenzspektrometern (EDXRF) für die Elementanalyse ein. Die neuen Spektrometer zeichnen sich laut Herstellerangaben durch hohe Nachweisstärke, Präzision und Reproduzierbarkeit für alle Elemente von Fluor bis Uran und ersetzen in besonderen Fällen sogar die wesentlich größeren wellenlängendispersiven RFA-Geräte. Optimierte Nachweisstärke für leichte Elemente (F – Ca) und ein neues Paket zur vollständigen Rückverfolgbarkeit der Messdaten gehören ebenso zur Ausstattung der neuen Systeme wie ein umfangreiches Softwarepaket mit Möglichkeiten für klassische Kalibrationen, schnelle, standardlose quantitative Analyse (OMNIAN) und für die einfache Substanzidentifizierung (Fingerprinting).

Für das Epsilon 3 hat Panalytical eine spezielle keramische Kleinleistungs-Röntgenröhre entwickelt. Als Detektor kommt die neueste Generation der Silizium-Drift-Detektoren zum Einsatz. Sowohl das Röhrenfenster als auch das Detektorfenster haben eine bessere Transparenz, so dass das System sogar Fluor messen kann. Wie bei allen RFA-Techniken ist die Probenvorbereitung extrem simpel: die Probe kann als loses Pulver, als Presstablette, als Filter bzw. direkt als Flüssigkeit analysiert werden. Mögliche Fehlerquellen der Probenvorbereitung wie Wiegen, Säureaufschluss etc. entfallen.

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