Zoom-Mikroskop Neues Zoom-Mikroskop mit flexiblem Schwenkkopf

Bei der Inspektion von Proben in der industriellen Mikroskopie ist es grundsätzlich wichtig, dass der Anwender das Objekt aus jedem Winkel im Detail betrachten kann. Das ermöglicht das neue opto-digitale Zoom-Mikroskop DSX100 von Olympus durch die freie Winkeleinstellung des Schwenkkopfes.

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Die Möglichkeit, Bilder auf dem Bildschirm zusammenzufügen, bietet dem Nutzer ein großes Sehfeld, sodass der Anwender das gesamte Objekt in sehr hoher Schärfe betrachten kann. In Kombination mit dem großen Arbeitsabstand, der soliden Bauweise und der einfach zu bedienenden Benutzeroberfläche eignet sich das DSX für jeden Anwender, der im Bereich Forschung und Entwicklung oder Qualitätskontrolle tätig ist, heißt es von Olympus. Die Zoomeinheit lässt sich positionieren und verriegeln, um beispielsweise Kerben, Schnitte oder Vorsprünge im Detail zu untersuchen. Durch den tiefen Schwerpunkt und das robuste Stativ führt die Bewegung der Zoomeinheit nicht dazu, dass das Mikroskop seine Stabilität verliert oder das Mikroskopieren für den Anwender unkomfortabel wird.

Der Anwender steuert die Beleuchtung

Die Technik im DSX100 überlässt dem Anwender die Einstellung der Intensität und Beleuchtungsrichtung. Durch einen LED-Ringlichtleiter mit vier Segmenten sind Kratzer und Defekte leichter zu erkennen, und unerwünschte Schattenbildung und dunkle Bereiche werden vermieden. Der Ringlichtleiter ist in Quadranten unterteilt, sodass jeweils eine Kombination aus diesen Abschnitten verwendet werden kann. Die energiesparenden LEDs weisen keine Änderung der Farbtemperatur auf, wenn die Beleuchtungsintensität verändert wird. Somit ist keine Anpassung des Weißabgleichs erforderlich. Die HDR-Funktion (High Dynamic Range) bewirkt eine weitere Optimierung der Detektion und gewährleistet, dass Defekte leicht zu erkennen sind. Die von Olympus entwickelte WiDER-Funktion ermöglicht die einfache Inspektion von Proben mit starken Helligkeitsunterschieden, indem alle mit hohem Kontrast verbundenen negativen Aspekte entfernt werden, ohne die Bildfrequenz zu verringern.

Probe kann auf mehreren Ebenen fokussiert werden

Beim DSX100 liegt kein Bereich außerhalb des Sehfeldes – denn der Mikroskoptisch lässt sich verschieben, während die einzelnen Bilder am Bildschirm automatisch zusammengefügt werden, um ein komplettes Panoramabild des Objekts zu erhalten. Der Anwender kann einzelne Merkmale vergrößern, um detailscharfe Bilder zu erzeugen. Außerdem verfügt das DSX100 über die Funktion Extended Focal Imaging (EFI), mit der das Mikroskop auf mehreren Ebenen innerhalb der Probe fokussieren kann. So lassen sich unregelmäßige Oberflächen auf einfache Weise darstellen und aus praktisch jedem Winkel inspizieren.

Um die Erkennung spezieller Komponenten für die Analyse möglichst einfach zu gestalten, kann der Anwender potenzielle Defekte mit dem Farbwahlschalter hervorheben, während der Rest der Probe schwarz-weiß dargestellt wird. Diese Funktion führt zu deutlichen Zeiteinsparungen, wenn innerhalb einer komplexen Probe spezielle Merkmale begutachtet werden sollen. Die Analyse wird beschleunigt und die Genauigkeit erhöht.

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