Mikroskopie & Bildanalyse Automatische Indizierung von Beugungsbildern

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Gerstel GmbH & Co. KG

Gesellschaft für Analysentechnik HLS

SPT Labtech

Die Elektronenbeugung liefert wichtige Informationen über die Mikrostruktur kristalliner Stoffe. Dieser Untersuchungsmethode im Transmissionselektronenmikroskopie (TEM) kommt vor allem deshalb eine besondere Bedeutung zu, da sehr kleine Probenstellen und somit besonders feinkörniges Gefüge untersucht werden können. Zudem lassen sich im TEM neben der Beugung auch hochauflösende Aufnahmen derselben Probenstelle erstellen. Die iTEM-Erweiterung Diffraction ermöglicht die automatische Indizierung, Auswertung, Vermessung und Analyse von Beugungsbildern. Wie alle anderen Erweiterungen ist auch iTEM Diffraction vollständig in iTEM, Bildanalyse-Plattform von Soft Imaging System für die TEM, integriert. Die Kalibrierung der Beugungsbilder (Kameralänge) erfolgt mittels iTEM Diffraction. Bei remotefähigen TEMs sind spätere Beugungsbilder somit sofort kalibriert. Mit Hilfe von iTEM Diffraction lassen sich Beugungsbilder (SAD) von sowohl ein- als auch feinkristallinen Proben indizieren. Neben den Millerschen Indizes wird die Zonenachse als Ergebnis der Indizierung im Overlay des Bildes angezeigt. Dazu gehörende Gitterabstände können bei Bedarf automatisch tabellarisch aufgelistet werden. Online-Statistikenliefern Informationen zur aktuellen Genauigkeit der Messergebnisse. Sowohl Ergebnisse als auch Statistiken lassen sich tabellarisch ausgeben.

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