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Rasterelektronenmikroskope Mit hohem Durchsatz

| Redakteur: Doris Popp

Das JEOL JSM-IT100 ist die neueste Entwicklung in der preisgekrönten In-Touch-Scope-Rasterelektronenmikroskop-Baureihe des Herstellers JEOL.

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JEOL JSM-IT100 InTouchScope
JEOL JSM-IT100 InTouchScope
(Bild: JEOL)

Mit seinen verbesserten EDS-Analysefunktionen ist das IT100 ein vielseitig einsetzbares „Arbeitspferd“ der Rasterelektronenmikroskopie. Es verfügt über eine hohe Bildauflösung und kontinuierlich einstellbare Beschleunigungsspannungen sowohl im Hochvakuum- als auch im Niedervakuum-Modus. Die Eingabe erfolgt über Touch-Screen-Bedienung oder für erfahrene REM-Anwender ist auch ein klassisches Bedienpult verfügbar. Durch die schnelle Datenerfassung werden Aufnahmen und Analysen von Proben zu einfachen Aufgaben. Dank automatischer Parameter-Optimierung können mit dem IT100 schnell und einfach Sekundär- und Rückstreuelektronen-Bilder aufgenommen werden. Das integrierte JEOL EDS-System mit SDD-Technik umfasst spektrales Mapping, Mehrpunktanalyse, automatische Driftkompensation, Linien-Scans und Filterfunktionen für Elementverteilungsbilder. Zur In-Touch-Scope-Baureihe von JEOL gehören das Neo-Scope-Tisch-REM mit wählbarem HV/LV-Modus und das JSM-IT300LV mit erweiterten Analysefunktionen und großer Probenkammer. Das FEG-REM JSM-7200F deckt einen breiten Anwendungsbereich ab und ermöglicht dabei den Einstieg in die Feldemissions-Rasterelektronenmikroskopie. Beim neuen JSM-7200F wird dank der patentierten In-Lens Schottky-Plus-Technology vor allem bei niedrigen Beschleunigungsspannungen eine hohe Auflösung (1,6 nm bei 1 kV) erreicht und zugleich kann ein hoher Probenstrom von über 300 nA erzeugt werden.

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