Simulierte dynamische Rasterkraftmikroskop-Aufnahme: Bei dieser Technik fährt die Mikroskopspitze über die Oberfläche der Probe (hier: eines Co-Phthalocyanin-Moleküls). Währenddessen wird der Kraftgradient, d. h. die Veränderung der Kraft mit dem Abstand zwischen Spitze und Probe, gemessen. (Bild: Hapala/Temirov/Tautz/Jelínek, Physical Review Letters, Copyright 2014 by The American Physical) 2/4 Zurück zum Artikel