Simulierte inelastische Rastertunnelspektroskopie-Aufnahme: Bei dieser Technik fährt die Mikroskopspitze über die Oberfläche der Probe (hier: eines Co-Phthalocyanin--Moleküls) und erfasst Veränderungen in der Schwingungsfrequenz des Sensormoleküls gegen die Mikroskopspitze. (Bild: Hapala/Temirov/Tautz/Jelínek, Physical Review Letters, Copyright 2014 by The American Physical) 4/4 Zurück zum Artikel