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Schichtanalysator

Analyse von Legierungen und galvanischen Bädern

06.02.2008 | Redakteur: Ilka Ottleben

Der Schichtanalysator Fischerscope X-Ray XDV-SD misst die Dicke von Legierungsschichten bis hinab auf zehn Nanometer.
Der Schichtanalysator Fischerscope X-Ray XDV-SD misst die Dicke von Legierungsschichten bis hinab auf zehn Nanometer.

Der Schichtanalysator Fischerscope X-Ray XDV-SD von Helmut Fischer eignet sich besonders für die Feingehaltbestimmung von Gold und anderen Edelmetallen sowie für die Analyse von galvanischen Bädern.

Das zugrundeliegende Messverfahren Energiedispersive Röntgenfluoreszenz erlaubt zerstörungsfreie, berührungslose und automatisierte Messungen. Bei einfacher Handhabung liefert es in sehr kurzer Zeit aussagekräftige Ergebnisse. Die Röntgenstrahlung ist in dem Vollschutzgerät sehr gut abgeschirmt. Bis zu 24 einzelne Werte, die eine Probe bezüglich Schichtdicke und Elementkonzentration kennzeichnen, lassen sich in einem Messvorgang gleichzeitig bestimmen. Die Dicke von Legierungsschichten ist bis hinab auf zehn Nanometer messbar. Bei der Analyse von Goldlegierungen ist eine Wiederholpräzision besser als 0,5 Promille möglich.

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