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Vermeidung von ICP-OES-Fehlmessungen

So reduzieren Sie die Anzahl an ICP-OES-Fehlmessungen

Agilent Titelbild WP1 primer

Dieses Whitepaper befasst sich mit der Lösung von intransparenten Zeitfressern im ICP-OES-Laboralltag. Es zeigt Lösungen auf, wie sich u. a. Wiederholmessungen vermeiden lassen und ermöglicht so Anwendern eine höhere Zeitflexibilität.

Vielerorts stellen laufende Kosten und Zeitmangel Probleme im Laboralltag dar. Nicht nur im Industrie-Bereich auch in Hochschulen und Instituten verhindern Nachmessungen oder Fehlinterpretationen einen entsprechenden Probendurchsatz, gute Reputation oder die Beantwortung zusätzlicher analytischer Fragestellungen, welche aus Zeitmangel nicht mehr bedient werden können. Die Schwierigkeiten bestehen oftmals in der Indentifikation der Ursachen. Erschwerend kommt hinzu, dass das Feedback erfahrener Kollegen durch einen Generationenwechsel fehlt.

Das Whitepaper unterstützt mit grundsätzlichen Lösungsansätzen alle ICP-OES-Anwender, die sich mit dieser Problematik täglich konfrontiert sehen.

Der ICP-OES Primer erörtert:

  • Berechnung der Auswirkungen von Wiederholungsmessungen
  • Häufigste Ursachen für Wiederholungsmessungen

Anbieter des Whitepapers

Agilent Technologies Sales & Services GmbH & Co.KG

Hewlett-Packard-Str. 8
76337 Waldbronn
Deutschland

Agilent Titelbild WP1 primer

 

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