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Optisches Emissionsspektrometer Neue Plasmabetrachtungstechnologie

Redakteur: Doris Popp

Das neue optische Emissionsspektrometer mit induktiv gekoppeltem Plasma (ICP-OES) „Spectrogreen ICP-OES“ erreicht laut Hersteller Spectro Analytical Instruments eine hohe Nachweisempfindlichkeit.

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Spectrogreen ICP-OES
Spectrogreen ICP-OES
(Bild: Spectro Analytical Instruments)

Mit der neuen Technologie „Dual Side On Interface (DSOI)“ will Spectro den Problemen herkömmlicher Plasmabetrachtungsdesigns begegnen. Hierbei kommen eine vertikale Plasmafackel und ein doppeltes optisches Interface zur beidseitigen radialen Betrachtung des Plasmas zum Einsatz. Das DSOI bietet laut Firmenangaben eine doppelt so hohe Nachweisempfindlichkeit wie herkömmliche Radialsysteme und hat weder die Nachteile, Komplexität noch Kosten vertikaler Dual-View-Geräte. Das Spectrogreen eignet sich für die Analyse und Bestimmung von Spurenelementen von Proben mit anspruchsvollen Matrices z.B. Abwässer, Böden und Schlämme, industrielle Chemikalien, Metallmatrices oder Proben mit hohen Salzgehalten. Wie es in einer Pressemitteilung heißt, erfordert das Spektrometer kein zusätzliches, externes Kühlgerät. So werden die recht hohen Kosten für die Anschaffung gespart, und die Störanfälligkeit des Gesamtsystems verringert sich.

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