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ICP-OES Neues ICP-OES-Gerät für die anspruchsvolle Elementanalytik

Redakteur: Dr. Ilka Ottleben

Das neue ICP-OES-Gerät Spectro Arcos ermöglicht eine axiale und radiale Plasmabetrachtung ohne Zuhilfenahme eines Periskops und folglich ohne die damit verbundenen Kompromisse bei der Leistungsfähigkeit.

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Das neue ICP-OES Spektrometer Spectro Arcos überwindet Leistungsgrenzen in der Elementanalytik
Das neue ICP-OES Spektrometer Spectro Arcos überwindet Leistungsgrenzen in der Elementanalytik
(Bild: Spectro Analytical Instruments)

Spectro Analytical Instruments bringt mit dem neuen Spectro Arcos ein ICP-OES-Gerät der höchsten Leistungskategorie auf den Markt. Als nach Herstellerangaben erstes optisches Emissions-Spektrometer mit induktiv gekoppeltem Plasma in dieser Leistungsklasse ermöglicht das Gerät eine axiale und radiale Plasmabetrachtung ohne Zuhilfenahme eines Periskops und folglich ohne die damit verbundenen Kompromisse bei der Leistungsfähigkeit. Das neue System eignet sich für die schwierigsten Aufgaben in der Elementanalytik von Metallen, chemischen und petrochemischen Substanzen und in der Umweltanalytik. Mit der neuen Multiview-Option ist es möglich, in weniger als 90 Sekunden und nur vier Arbeitsschritten das Plasma-Interface von der radialen zur axialen Betrachtungsweise (oder umgekehrt) umzustecken. Folglich kann das Spectro Arcos als Radial-Gerät höhere Gehalte mit hoher Genauigkeit bestimmen – und kaum zwei Minuten später als Axial-Gerät in der Spurenanalytik im ppb-Bereich eingesetzt werden. Die CCD-Optik in optimierter Paschen-Runge-Aufstellung (ORCA) ermöglicht eine Auflösung von 8,5 pm im Wellenlängenbereich von 130 bis 340 nm. Es ist kein Spülgas erforderlich und das System benötigt kein externes Kühlsystem.

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