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Das druckbasierte Doppeldosiersystem DDS-P lässt sich auf viele modulare Kontaktwinkelmesssysteme der OCA-Serie montieren. (Bild: DataPhysics Instruments)
Kontaktwinkelmessung – Doppeldosiersystem

Oberflächenenergie von Feststoffen in Sekunden bestimmen

Das druckbasierte Doppeldosiersystem DDS-P ermöglicht in Kombination mit einem Kontaktwinkelmessgerät der OCA-Serie eine einfache und effiziente Bestimmung der Oberflächenenergie von Feststoffen in nur einer Sekunde. Es eignet sich damit für den Einsatz in der Qualitätskontrolle sowie für Forschungs- und Entwicklungsabteilungen mit hohem Probendurchsatz, wie der Hersteller Dataphysics Instruments mitteilt.

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Für ihr Projekt haben die Forscher Tausende von mikroskopischen Aufnahmen von Mikrochips gemacht. Hier ist ein solcher Chip in einem goldenen Chipgehäuse zu sehen. Die untersuchte Chipfläche ist nur etwa zwei Quadratmillimeter groß. (Bild: RUB, Marquard)
IT-Sicherheit

Sabotierte Mikrochips erkennen

Cyber-Angriffe erfolgen meist über die Verbreitung schädlicher Software, die Hackern Zugriff auf die Systeme gewähren soll. Doch auch durch Manipulation der Hardware, genauer: der Mikrochips, können Angreifer gezielt Schaden anrichten. Wie sich die mikroskopischen Manipulationen aufspüren lassen, zeigen Forscher der Ruhr-Universität Bochum.

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