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Rasterelektronenmikroskope Feldemissions-Rasterelektronenmikroskope für die Abbildung empfindlicher Proben

Redakteur: Doris Popp

Zeiss präsentiert eine neue Generation seiner Feldemissions-Rasterelektronenmikroskope (FE-REM) - Zeiss Gemini SEM.

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Zeiss Gemini SEM
Zeiss Gemini SEM
(Bild: Zeiss)

Die neuen Modelle Zeiss Gemini SEM 360, 460 und 560 erreichen Sub-Nanometer Auflösung und sollen die Analytik beliebiger Proben vereinfachen. Anwender profitieren laut Unternehmensangaben bei der Abbildung empfindlicher Proben von besserer Bildqualität, einfacher Bedienbarkeit und hoher Flexibilität. Mit dem Modell Zeiss Gemini SEM 560 kommt auch erstmals die neue Elektronenoptik Zeiss Gemini 3 auf den Markt.

Wie es in einer Pressemitteilung heißt, liefert die neue Zeiss-Gemini-SEM-Familie mehr Informationen zu jeder Probe, minimiert Probenschädigungen und verhindert Probenartefakte. Alle drei Modelle verfügen über ein neues Design der Probenkammer, in die Forscher größere und mehr Proben als zuvor einbringen können. Somit können Wissenschaftler mit einem Instrument eine Vielzahl analytischer Anwendungen durchführen. Die Designs der Elektronenoptik Zeiss Gemini erfüllen in Verbindung mit der neuen Kammer alle Anforderungen für Bildgebung und Analytik. Die größere Kammer soll die Konfigurierbarkeit und Flexibilität für zukünftige Forschungsaufgaben und analytische Arbeitsabläufe verbessern.

Mit der Zeiss Gemini SEM 560 will Zeiss einen neuen Standard für die Oberflächenabbildung setzen. Die Einführung der Zeiss-Gemini-3-Elektronenoptik mit Nano-twin-Objektivlinse und Smart Autopilot ermöglicht die Abbildung empfindlicher Proben in hohen Auflösungen. Mit dem Modell 560 will Zeiss die Grenzen der immersionsfreien und Niederspannungsabbildung verschieben. Das System ermöglicht magnetfeldfreie Abbildungen unter einem Kilovolt. Das neue elektronenoptische Design verbessert zusammen mit neuen Autofunktionen und dem patentierten Autofokus den Leistungsumfang und die Effizienz des Systems laut Zeiss erheblich. In Forschungseinrichtungen können selbst unerfahrene Benutzer ohne die Unterstützung von Verantwortlichen gute Ergebnisse erzielen. Der Wechsel von Standard zu fortgeschrittenen Einstellungen ist für Benutzer mühelos möglich. Ein neuer Übersichtsmodus vereinfacht die Orientierung auf der Probe. Benutzer können zudem einfach von geringer zu hoher Vergrößerung wechseln, ohne die elektronenoptische Säule justieren zu müssen.

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