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Röntgenmikroskop Sensitive EDX-Messung

| Redakteur: Christian Lüttmann

Das neueste energiedispersive Röntgenmikroskop XGT-9000 von Horiba Scientific soll sich durch eine komplett neue Software sowie stark erhöhte Sensitivität gegenüber seinen Vorgängern abheben. Damit ist laut Unternehmensangaben noch schnelleres Imaging großer Probenbereiche möglich.

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XGT-9000 Röntgenmikroskop
XGT-9000 Röntgenmikroskop
(Bild: Horiba)

Mit dem energiedispersiven Röntgenmikroskop XGT-9000 von Horiba Scientific soll das Imaging großer Probenbereiche schneller möglich sein als zuvor. Ob in der Qualitätskontrolle für schnelle Übersichtsscans oder in der Forschung für anspruchsvolle Fragestellungen: Durch die Möglichkeit, eine Reihe von verschiedenen Röntgenoptiken im selben Gerät verwenden zu können, kann man schnell den Fokus des Geräts ändern. Durch eine Polykapillare mit höchster Intensität sind schnelle Mappings möglich, wie es in einer Pressemeldung heißt. Nach Identifizierung der Regionen von besonderem Interesse können mit einer Monokapillare mit 10 µm räumlicher Auflösung Detail-Mappings erzielt werden. Durch die vertikale Ausrichtung der Kapillaren und die nahezu parallele Strahlführung der Monokapillaren erhält man scharfe und unverzerrte Elementverteilungen.

Besonderer Vorteil des XGT-9000 soll laut Horiba sein, dass auch gleichzeitig Transmissionsröntgenaufnahmen erstellt werden, sodass man zusätzlich viele weitere Informationen mit einem Gerät bzw. einer Messung erhält. So können etwa Defekte in Elektronikbauteilen oder unerwünschte Fremdkörper in Pharmazeutika detektiert werden – zerstörungsfrei, z.B. ohne Öffnen von Plastikgehäusen.

Die Software wurde im Vergleich zu den Vorgängerversionen Unternehmensangaben zufolge deutlich überarbeitet und soll es auch Anfängern einen schnellen Einstieg ermöglichen. Nach Erlernen der Grundfunktionen kann man durch ein anpassbares Interface alles nach eigenen Bedürfnissen ausrichten, um deutlich effizienter zu arbeiten. Die Software lässt sich optional mit diversen Modulen ausstatten, u.a. zur Bestimmung von Dicken metallischer Schichten bis in den Nanometerbereich oder zur schnellen Analyse von Partikeln auf der Probe.

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