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Epithelschichtdicke-Mapping

Diagnose von Netzhaut- und Glaukomerkrankungen

| Redakteur: Doris Popp

Zeiss Cirrus Epithelial Thickness Mapping
Zeiss Cirrus Epithelial Thickness Mapping (Bild: Zeiss)

Die Medizintechniksparte von Zeiss meldet, dass das Unternehmen eine 510(k)-Zulassung von der US-Zulassungsbehörde FDA für sein Anterior Segment Premier Modul erhielt, eine Erweiterung des Systems Cirrus HD-OCT für das Epithelschichtdicke-Mapping (Epithelial Thickness Mapping / ETM).

Beim ETM mit Cirrus wird eine detaillierte 9-Millimeter-Karte der Epithelschichtdicke erstellt, mit deren Hilfe Patienten vor dem refraktiven Eingriff gründlich untersucht werden können und die außerdem die Überwachung der Reaktionen in der Hornhaut nach der Behandlung ermöglicht. Damit wird das Management von Patienten mit Erkrankungen der Augenoberfläche, wie dem trockenen Auge oder progressiven Hornhauterkrankungen wie Keratokonus, unterstützt.

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